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一种高精度的荧光单分子纳米级定位算法(PDF)

《纳米技术与精密工程》[ISSN:1672-6030/CN:12-1351/O3]

期数:
2010年5期
页码:
394-400
栏目:
纳米技术
出版日期:
2010-09-15

文章信息/Info

Title:
A High Precision Algorithm for Fluorescence Single Molecule Localization with Nanometer Accuracy
作者:
鄢志丹1孙立东2李艳宁3胡小唐3ZEPPENFELD Peter2
1天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072;奥地利林茨大学实验物理研究所原子与表面科学系,林茨,A-4040;2、奥地利林茨大学实验物理研究所原子与表面科学系,林茨,A-4040;3、天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津,300072
Author(s):
YAN Zhi-dan SUN Li-dong LI Yan-ning HU Xiao-tang ZEPPENFELD Peter
关键词:
荧光成像 单分子纳米级定位 图像信噪比 二维高斯曲面
Keywords:
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分类号:
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DOI:
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文献标识码:
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摘要:
荧光成像系统的技术指标、采集的荧光图像信噪比和单分子定位算法是影响单分子定位精度的3大因素.在介绍单分子定位的基本极限精度和理论计算精度的基础上,提出了一种被称为图像去噪高斯掩膜算法的单分子定位算法.依据实验用单分子成像系统的具体配置,通过计算机仿真表明,该算法良好的去噪处理和高斯加权质心运算方式,不仅能实现纳米级的定位精度,而且能突破一般理论计算精度的限制,接近基本极限精度,特别是在背景噪声较大的情况下,其优势更加明显.这对单分子的精确定位和跟踪、扩散方式分析、转移速率计算等具有重要的意义.
Abstract:
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参考文献/References

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备注/Memo

备注/Memo:
中国-奥地利国际合作项目,国家自然科学基金资助项目,高等学校学科创新引智计划111项目
更新日期/Last Update: 2010-10-20